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일반적인 Near 필드 프로브(Probe)를 이용하여 PCB 보드상에 부품이나 하네스 또는 케이스 조립 유무와 관계없이 2차, 3차원 구조물 DUT의 EMC/EMI 현상을 정확하게 또한 반복적으로 빠르게 측정할 수 있는 고해상도의 측정장비

시스템 구성도

기능

Spectrum 스캔(주파수 스캔), spatial 스캔(전자파 필드스캔), 피크홀드, 연속스캔, 스크립팅, Spectral & spatial 동시 스캔, 전자파 규격 기준 라인 및 자동 측정결과 리포트 기능

측정 공간

동영상 - EMI/EMC 진단하기

EMI 필터 효과 분석

EMI/EMC 노이즈 진단 방법

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