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일반적인 Near 필드 프로브(probe)를 이용하여 PCB 보드상에 부품이나 harness 또는 케이스 조립 유무와 관계없이 2차, 3차원 구조물 DUT의 EMC/EMI 현상을 정확하게 또한 반복적으로 빠르게 측정할 수 있는 고해상도의 측정장비

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시스템 구성도

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기능

Spectral 스캔(주파수 스캔), spatial 스캔(필드스캔), 피크홀드, 연속스캔, 스크립팅, Spectral & spatial 동시 스캔, 전자파 규격 기준 라인 및 자동 측정결과 리포트 기능

측정 공간

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동영상 - EMI/EMC 진단하기

보드의 3차원 측정 - 부품, 케이블, 하우징 상태에서 측정.

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